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HORIBA - EmisiOn Optica OES

ESPECTROMETRIA (ICP-OES)

Los espectrómetros ICP-OES de HORIBA Scientífic con su diseño único proporcionan un alto rendimiento a su laboratorio para las aplicaciones más exigentes, no sólo con bajos límites de detección y precisión, sino también con la facilidad en el desarrollo del método analítico. HORIBA Scientific desarrolla y fabrica espectrómetros ICP-OES de alto rendimiento por más de 35 años.El nuevo Ultima Expert ofrece el más alto rendimiento en el mercado y está especialmente diseñado para manejar las aplicaciones más exigentes.

Su diseño óptico de alta calidad que integra una rejilla holográfica de alta densidad y un metro de longitud focal asociada con la característica única de Vista Total del Plasma, ofrece la más alta resolución del mercado, junto con una alta sensibilidad y estabilidad para las aplicaciones más exigentes.

Características

- Análisis Multi-elemento Cualitativo, Semicualitativo y Cuantitativo.
- Determinación de más de 70 elementos de la Tabla Periódica.
- Obtención de un rango espectral completo (120 - 800nm).
- Excelentes límites de detección
- Reducido efecto de matriz.
- Amplio rango lineal dinámico.
- Análisis de soluciones con altos contenidos de sal o solidos disueltos (ej: 200 g/L de NaCL).
- Software orientado al usuario, con muchas herramientas de asistencia para desarrollo de métodos, calibración, o análisis estadístico de los resultados.

ESPECTROMETRÍA DE EMISION OPTICA GD-OES

EMISION OPTICA GD-OES

HORIBA Scientific proporciona los espectrómetros para análisis superficial, perfiles de profundidad y el análisis de composición tanto de muestras conductoras como no conductoras gracias a la fuente de radiofrecuencia de descarga luminiscente (RF-GD-OES).RF Glow Discharge Optical Emission Spectrometry (GD-OES) es una técnica reconocida para aplicaciones que involucran análisis superficial, la interacción de elementos en materiales y recubrimientos, así como la composición química de los materiales.Permite obtener perfiles de profundidad de múltiples elementos, incluyendo gases con excelente resolución de profundidad y muy buena sensibilidad.

El GD-Profiler 2™ proporciona rápido análisis y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo los gases de nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y Cloro. Es una herramienta ideal para caracterización de películas delgadas y estudios de proceso.

GD-Profiler ™ HR El HORIBA Scientific GD-Profiler™ HR brinda lo máximo en términos de resolución y en número de elementos para resolver problemas analíticos incluso en las matrices más complejas.

Características

- Fácil de usar (no requiere alto vacío)
- Velocidad de erosión en micrones/minuto.
- Muestras conductoras o no conductoras y recubrimientos.
- Cuantificación de Perfiles de Profundidad.
- Cuantificación simultánea en todos los elementos, incluyendo H, O, N y Cl.
- Resolución de profundidad 1 nm.
- Modo pulsado de RF para muestras y capas frágiles.
- Cumplimiento de ISO 14707 Y 16962.

PLASMA PROFILE TOFMS ™

Este nuevo instrumento combina la velocidad del proceso de erosión Catódica de plasma GD con la rapidez y sensibilidad de un espectrómetro de masas. Proporciona la composición química como una función de la profundidad de materiales sólidos. Esta técnica de análisis de perfiles de profundidad consiste en una fuente de plasma de descarga luminiscente que se erosiona y ioniza material de muestra acoplado a un ultra rápido espectrómetro de masas.
El PLASMA PROFILE TOFMS ™ ofrece una mayor sensibilidad que la GD-OES y ofrece perfiles isotópicos y moleculares.